瑞士萬通XDS 近紅外光譜分析儀——直射光/非接觸型是用于非直接接觸樣品實(shí)時(shí)分析的新一代在線分析儀。無損精確的檢測(cè)可在任何移動(dòng)或可接近的產(chǎn)品上進(jìn)行，比如傳送帶、傳送網(wǎng)帶或薄膜上。非接觸型反射檢測(cè)可提供深層的化學(xué)成分分析，無論樣品質(zhì)地松散還是緊實(shí)，均勻或非均勻。非接觸型檢測(cè)可用于纖維狀、薄膜狀、多層疊加狀以及網(wǎng)狀樣品——如塑料、紙張或紡織品等樣品的質(zhì)量控制。

檢測(cè)頭安裝在光纖的末端，由感應(yīng)頭發(fā)出的高強(qiáng)度光穿透樣品，光與樣品作用后反射回感應(yīng)頭，經(jīng)收集光纖束傳送到儀器主機(jī)進(jìn)行分光和信號(hào)檢測(cè)。XDS近紅外在線分析儀的設(shè)計(jì)堅(jiān)固耐用，為儀器在惡劣工業(yè)環(huán)境下操作時(shí)其性能和分析結(jié)果的一致性和穩(wěn)定性提供了一個(gè)新標(biāo)準(zhǔn)。

瑞士萬通XDS 近紅外光譜分析儀——直射光/非接觸型儀器特性及優(yōu)勢(shì)

. 適用于移動(dòng)樣品的無損原位近紅外檢測(cè)

. 直接在產(chǎn)品線上的反射檢測(cè)，無需直接接觸樣品

. 適用于傳送帶、 傳送網(wǎng)帶上的均勻或非均勻的樣品

. 波長范圍： 800-2200 nm

. 儀器符合 NEMA 4X/IP65，不銹鋼檢測(cè)頭符合 IP69K 保護(hù)等級(jí)

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